Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV (Япония) - увеличение от ×5 до ×300 000; ускоряющее напряжение от 0,3 кВ до 30 кВ; разрешение – 2,5 нм

Система микроанализа - интегрированная аналитическая приставка к РЭМ энергодисперсионный спектрометр INCA Energy350 X-Max 20 (Oxford Instruments, Великобритания).

 

Энергодисперсионный спектрометр позволяет получить элементный состав в любой точке образца горных пород. Далее определяются минералы, соответствующие элементному составу.