Изучение порового пространства методом РЭМ
Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV (Япония) — увеличение от ×5 до ×300 000; ускоряющее напряжение от 0,3 кВ до 30 кВ; разрешение – 2,5 нм
Система микроанализа — интегрированная аналитическая приставка к РЭМ энергодисперсионный спектрометр INCA Energy350 X-Max 20 (Oxford Instruments, Великобритания).
Растровый электронный микроскоп JEOL JSM-6610LV
Энергодисперсионный спектрометр INCA Energy350 X-Max 20
Фото породы под микроскопом
Энергодисперсионный спектрометр позволяет получить элементный состав в любой точке образца горных пород. Далее определяются минералы, соответствующие элементному составу.